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  • 高溫老化房(老化室)(老化試驗(yàn)房)
    高溫老化房(老化室)(老化試驗(yàn)房)

    高溫老化房(老化室)(老化試驗(yàn)房)本質(zhì)是同一類設(shè)備的不同名稱,均屬于大型批量式高溫老化測試設(shè)備,通過長時(shí)間恒溫老化,把不良品篩選出來。

    更新日期:2025-12-09型號(hào):
  • GT-BIT-14O汽車充電樁老化房
    GT-BIT-14O汽車充電樁老化房

    汽車充電樁老化房是專為直流快充樁、交流充電樁等新能源充電設(shè)備設(shè)計(jì)的老化測試專用設(shè)備,通過模擬各類復(fù)雜環(huán)境與工作負(fù)載,驗(yàn)證充電樁長期運(yùn)行的可靠性、安全性和穩(wěn)定性。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIT-14O
  • GT-BIE-47M高溫老化房出售老化柜定做
    GT-BIE-47M高溫老化房出售老化柜定做

    武漢格特廠家高溫老化房出售老化柜定做是一種用于模擬高溫環(huán)境以測試材料、產(chǎn)品性能和可靠性的設(shè)備,在多個(gè)領(lǐng)域中具有重要應(yīng)用。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIE-47M
  • GT-BIR-87G高溫環(huán)境老化房(熱老化試驗(yàn)箱)
    GT-BIR-87G高溫環(huán)境老化房(熱老化試驗(yàn)箱)

    武漢格特高溫環(huán)境老化房(熱老化試驗(yàn)箱)是用于模擬高溫、惡劣環(huán)境條件,對電子產(chǎn)品、材料或組件進(jìn)行可靠性測試的重要設(shè)備。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIR-87G
  • GT-BIT-14J電路板PBC老化房
    GT-BIT-14J電路板PBC老化房

    武漢格特電路板PBC老化房(電腦主板老化柜)是電子設(shè)備可靠性的 “守門人”,適用于電路板、電路板模組、電子組件、驗(yàn)證其長期穩(wěn)定性與使用壽命,是電子制造業(yè)批量生產(chǎn)中保障電路板質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIT-14J
  • GT-BIT-12L武漢步入式恒溫試驗(yàn)室廠家
    GT-BIT-12L武漢步入式恒溫試驗(yàn)室廠家

    武漢步入式恒溫試驗(yàn)室廠家適用于大型產(chǎn)品進(jìn)行恒溫老化測試、整機(jī)可靠性驗(yàn)證、批量樣品恒溫儲(chǔ)存 / 預(yù)處理、工業(yè)生產(chǎn)中的恒溫工藝環(huán)節(jié),尤其適合空間需求大、需頻繁操作樣品的實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)車間。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIT-12L
  • GT-BIR-45J武漢老化房生產(chǎn)工廠
    GT-BIR-45J武漢老化房生產(chǎn)工廠

    武漢老化房生產(chǎn)工廠供應(yīng)的老化設(shè)備采用新型高密度阻燃型聚氨酯材料,保溫性能良好,插接拼裝形式使其結(jié)構(gòu)合理、移動(dòng)方便、實(shí)用性強(qiáng),即便后期改造或搬遷,設(shè)備原技術(shù)指標(biāo)依然保持不變。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIR-45J
  • GT-BIR-1N0紫外線高溫老化房
    GT-BIR-1N0紫外線高溫老化房

    紫外線高溫老化房作為一種*的加速老化試驗(yàn)設(shè)備,通過模擬自然環(huán)境中的紫外線輻射與高溫條件,能夠快速評(píng)估材料及產(chǎn)品的耐候性和可靠性,為產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制和材料篩選提供重要的數(shù)據(jù)支持。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIR-1N0
  • GT-BIR-12K配電箱老化房
    GT-BIR-12K配電箱老化房

    配電箱老化房是針對配電箱產(chǎn)品進(jìn)行可靠性與穩(wěn)定性測試的專用設(shè)備,通過模擬各類嚴(yán)苛環(huán)境加速產(chǎn)品老化,提前暴露潛在缺陷,確保其在實(shí)際應(yīng)用中的安全性和耐用性。

    更新日期:2025-11-18型號(hào):GT-BIR-12K
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